சிர்கோனியா செராமிக்ஸ் பரிசோதனை

வொண்டர் கார்டன் சிர்கோனியா செராமிக் சென்டர்-போஸ்ட் கார்ட்ரிட்ஜ்கள் மற்றும் ஒரு முன்னணி போட்டியாளரின் மெட்டல் சென்டர்-போஸ்ட் கார்ட்ரிட்ஜ்கள் விசாரணைக்காக வொண்டர் கார்டனால் வழங்கப்பட்டன.மாதிரிகளின் ஆயுள் மற்றும் வெப்பச் சிதைவை ஆய்வு செய்ய, அலியோவேலண்ட்ஸ் மெட்டீரியல் ரிசர்ச் பைக்னோமெட்ரி, எக்ஸ்ரே டிஃப்ராஃப்ரக்ஷன், ஸ்கேனிங் எலக்ட்ரான் மைக்ரோஸ்கோபி மற்றும் ஆற்றல் பரவும் ஸ்பெக்ட்ரோஸ்கோபி ஆகியவற்றைப் பயன்படுத்தியது. மிக உயர்ந்த தரமான குறுக்குவெட்டு அடையப்படுவதை உறுதி செய்வதற்காக, 200 ஆர்பிஎம்மில் குறைந்த வேக வேஃபரிங் டயமண்ட் சா (அலைட் ஹைடெக், யுஎஸ்) பயன்படுத்தி நீளம்.பின்னர் மாதிரிகள் அல்ட்ராசோனிக் கிளீனரில் டீயோனைஸ் செய்யப்பட்ட தண்ணீரில் கழுவப்பட்டு, கடைசியாக ஐசோப்ரோபனோல் மற்றும் DIW உடன் துவைக்கப்பட்டது.பின்னர் மாதிரிகள் 2 மஃபிள் உலைகளில் வைக்கப்பட்டு 300℃ மற்றும் 600℃ காற்றில் வைக்கப்பட்டன (~நைட்ரஜன் 78%, ஆக்ஸிஜன் 21%, மற்றவை 1%).

இந்த சாதனங்களின் வழக்கமான இயக்க வெப்பநிலை பொதுவாக 250 °C முதல் 350 °C வரை இருக்கும், அதிகபட்ச இயக்க வெப்பநிலை 450 °C முதல் 500 °C வரை இருக்கும்.எனவே, 1.2 இன் பாதுகாப்புக் காரணியைக் கருத்தில் கொண்டு, இது 600 °C இல் பொருளின் மதிப்பீட்டிற்கு வழிவகுத்தது.செராமிக் மற்றும் மெட்டல் சென்டர்-போஸ்ட்களுக்கு ப்ரிஸ்டைன், 300 °C மற்றும் 600 °C இல் சிறப்பியல்பு முறைகள் மேற்கொள்ளப்பட்டன.

கிராவிமெட்ரிக் மிதவை முறையைப் பயன்படுத்தி அடர்த்தி அளவிடப்பட்டது.எக்ஸ்ரே டிஃப்ராஃப்ரக்ஷன் (எக்ஸ்ஆர்டி) வடிவங்கள் பெறப்பட்டன.கிரிஸ்டல் டொமைன் அளவு XRD டிஃப்ராஃப்ரக்ஷன் சிகரங்களில் இருந்து ஸ்கெரர் சமன்பாட்டைப் பயன்படுத்தி (111) சிகரங்களின் முழு அகலத்தைப் பாதி அதிகபட்சமாக (FWHM) பயன்படுத்துகிறது.குறுக்குவெட்டு ஸ்கேனிங் எலக்ட்ரான் மைக்ரோஸ்கோபி (SEM) அதிக வெற்றிடத்தில் மிக உயர்ந்த தெளிவுத்திறன் கொண்ட நுண் கட்டமைப்பு படங்களை பெற செய்யப்பட்டது.எரிசக்தி-பரவலான ஸ்பெக்ட்ரோஸ்கோபி (SEM/EDS) மாதிரிகளின் அடிப்படை பகுப்பாய்விற்காக, குறிப்பிடப்பட்ட வெப்பநிலையில் மேலும் கலவை மாற்றங்கள் ஏற்பட்டுள்ளதா என்பதை ஆராய்வதற்காக செய்யப்பட்டது.